無損檢測(cè)設(shè)備的工作原理
1.首先，無損裝置主要利用X射線的穿透力。X射線波長(zhǎng)短，能量大。當(dāng)物質(zhì)照射物體時(shí)，只會(huì)吸收一小部分X射線，而大多數(shù)X射線的能量會(huì)穿過物質(zhì)原子的間隙，顯示出很強(qiáng)的穿透力。
2.無損裝置可以檢測(cè)x射線穿透力與物質(zhì)密度的關(guān)系，通過差異吸收可以區(qū)分不同密度的物質(zhì)。這樣，如果檢測(cè)到的物體有不同的厚度、形狀變化、不同的X射線吸收和不同的圖像，就會(huì)產(chǎn)生不同的黑白圖像。
3.可用于IGBT半導(dǎo)體檢測(cè)、BGA芯片檢測(cè)、LED燈條檢測(cè)、PCB裸板檢測(cè)、鋰電池檢測(cè)、鋁鑄件無損檢測(cè)。
4.簡(jiǎn)單地說，使用無干擾的微焦點(diǎn)無損設(shè)備輸出高質(zhì)量的熒光透視圖像，然后將其轉(zhuǎn)換為平板探測(cè)器接收的信號(hào)。操作軟件的所有功能只用鼠標(biāo)完成，使用方便。標(biāo)準(zhǔn)高性能x光管可檢測(cè)到5微米以下的缺陷，部分無損設(shè)備可檢測(cè)到2.5微米以下的缺陷，系統(tǒng)可放大1000倍，物體可傾斜。無損設(shè)備可以手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè)，檢測(cè)數(shù)據(jù)可以自動(dòng)生成。
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